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膜厚儀,分為磁感應(yīng)膜厚儀,電渦流膜厚儀,熒光X射線膜厚儀。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀,是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。

采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。一些電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用專利設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))�，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。

磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。

采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。

具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。

膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀,它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái),而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度,來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

涂鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀的常見(jiàn)故障及處理方法 今天為大家講解涂鍍層測(cè)厚儀（簡(jiǎn)稱膜厚儀）使用頻繁、工作環(huán)境等原因造成儀器測(cè)量時(shí)有故障總結(jié)使用中常見(jiàn)故障及處理方法：

涂鍍層測(cè)厚儀儀器不開(kāi)機(jī)：

①請(qǐng)檢查確認(rèn)電池是否有電,或更換新的電池。

②請(qǐng)檢查電池是否接觸良好,且電極片沒(méi)有氧化或生銹等-（如生銹—可用工具刮掉氧化層）

③請(qǐng)檢查按鍵是否按壓到位,且按鍵正常有彈性。

④其它主機(jī)線路故障咨詢公司售后服務(wù)或返廠檢修

涂鍍層測(cè)厚儀儀器測(cè)量不準(zhǔn)：

①請(qǐng)先行系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器,標(biāo)定,使之符合誤差范圍誤差遵循≦3%(厚度值）±1um如需測(cè)試更加精準(zhǔn)請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的光滑裸基（而不是隨機(jī)帶的的鐵塊）進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。

②請(qǐng)檢查探頭前端是否磨損,是否變形,有附著物質(zhì)等探頭外護(hù)套是否不在水平等,變形可適當(dāng)用砂紙打磨修正,處理干凈.

③被測(cè)件基材表面粗糙度影響,引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差測(cè)量時(shí)在不同位置增加測(cè)量次數(shù),克服偶然誤差。或用砂紙打磨基材重新校對(duì)儀器零點(diǎn)。

④測(cè)量手法以及探頭的放置需保持探頭與試樣垂直

⑤被測(cè)件曲度在該探頭所適應(yīng)的曲率半徑下,重新校準(zhǔn)。尤其管道凸面,注意探頭V型卡槽穩(wěn)定放置。

涂鍍層測(cè)厚儀儀器不測(cè)量：

①檢查探頭是否連接良好,插到位 查看探頭插頭插針情況

②檢查探頭線是否有斷的地方重點(diǎn)檢查探頭接插件處（接頭處可以旋鈕擰開(kāi)查看）

③探頭頻繁大量使用,傳感器老化或損壞等

④其它主機(jī)線路元件故障咨詢公司售后服務(wù)或返廠檢修

測(cè)量無(wú)數(shù)據(jù)變化：

①探頭是否連接良好探頭是否損壞等

②相關(guān)主機(jī)線路故障

開(kāi)機(jī)測(cè)量?jī)H測(cè)“0000”（有測(cè)量符號(hào)并伴隨蜂鳴聲非正常斷電引起數(shù)據(jù)丟失可以試著系統(tǒng)校準(zhǔn)恢復(fù)數(shù)據(jù)

儀器開(kāi)機(jī)不能進(jìn)入測(cè)量界面

儀器開(kāi)機(jī)（“全力以赴打造精品”不動(dòng)了）

①探頭線是否連接良好有斷點(diǎn)

②其它主機(jī)線路故障

涂鍍層測(cè)厚儀儀器開(kāi)機(jī)無(wú)顯示

（有背光有蜂鳴聲）

①液晶模塊器件有故障

②儀器外力沖擊導(dǎo)致液晶排線斷裂

③相關(guān)主機(jī)線路故障

涂鍍層測(cè)厚儀儀器浸水浸油電池漏夜等受潮腐蝕

建議返公司維修部鑒定,是否具有進(jìn)一步處理的價(jià)值通常此類情況會(huì)嚴(yán)重影響儀器的穩(wěn)定性和耐用性。可酌情考慮更換儀器。