半導體美國bowman x射線熒光膜厚測試儀:詳述
1.元素范圍：鋁13到鈾92。
2.x射線激發(fā)能量：50 w(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
3.探測器：硅pin檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率
測量的分析層和元素：5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素
4.過濾器/準直器：4個初級濾波器與4個電動準直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
5.聚焦：多固定聚焦與激光系統
數字脈沖處理：4096 多通道數字分析器與自動信號處理，包括x射線時間修正和防x射線積累
6.電腦：英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb ddr3內存,微軟windows 7 專業(yè)64位等效
7.鏡頭：1/4 " cmos - 1280 x720 vga分辨率
8.電源：150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
9.工作環(huán)境：50°f(10°c)到104°f(40°c)小于98％ rh,無冷凝水
10.重量：32公斤
11.內部尺寸：高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
12.外形尺寸：高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24)
半導體美國博曼（bowman）x射線熒光膜厚測試儀 應用領域：
1、分析電子部品電鍍層的厚度
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
3、各鍍層的成分比例分析。
美國原裝博曼（bowman）x射線熒光膜厚測試儀應用領域于分析電子部品電鍍層的厚度 ，各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析，各鍍層的成分比例分析等。美國原裝博曼膜厚儀用于高分辨硅-pin-接收器，配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層等 ，應用于端子，連接器，細小的金線，在五金，汽車配件．線路板，衛(wèi)浴，等行業(yè)，使用安全簡便，堅固耐用節(jié)省維護費用，高分辨率探測器硅pin檢測器250 ev，配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限
湘公網安備 43052302000106號