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超聲波測厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的,但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射,測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間,即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用最廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近,厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對(duì)于鋼材,最大測定厚度達(dá)2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之間。

磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí),測定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

渦流測厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時(shí),由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,此渦流產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理,可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

測量注意事項(xiàng):

1、在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

2、測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

3、測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、測量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。

5、測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場,如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測厚法。

6、測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

7、在測量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測量的讀數(shù)。

8、在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

6、超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。